X射線衍射分析

射線衍射儀技術（XRD）

1.X射線衍射儀技術（XRD）

X射線衍射（X射線衍射，XRD）。通過對材料進行X射線衍射分析，可以分析材料的衍射圖，以獲得諸如材料組成，材料內部原子或分子的結構或形態等信息。X射線衍射分析是研究物質的相和晶體結構的主要方法。當對一種物質（晶體或非晶體）進行衍射分析時，該物質會受到X射線的照射，從而產生不同程度的衍射現象。物質的組成，晶體形式，分子內鍵合方法，分子的構型和構象決定了物質的產生獨特的衍射圖樣。X射線衍射法的優點是不破壞樣品，無污染，速度快，測量精度高，可以得到很多有關晶體完整性的信息。因此，作為材料結構和成分分析的現代科學方法，X射線衍射分析法已逐漸被廣泛用于各個學科的研究和生產中。

 

2.X射線衍射儀技術（XRD）可以為客戶解決的問題

（1）當材料由多種晶體成分組成時，需要區分每種成分的比例。XRD的相識別功能可用于分析每個結晶相的比例。

（2）許多材料的性能取決于結晶度。XRD結晶度分析可用于確定材料的結晶度。

（3）新材料的開發要求對材料的晶格參數有充分的了解。可以使用XRD快速測試晶格參數，從而為開發和應用新材料提供性能驗證指標。

（4）在產品使用過程中會發生斷裂和變形等故障現象，這可能涉及微觀應力的影響。使用XRD可以快速確定微觀應力。

（5）由于納米材料的尺寸小，很容易形成附聚物，并且通常的粒度分析儀經常會給出錯誤的數據。納米粒子的平均粒徑可以通過X射線衍射線寬法（謝勒法）求出。

 

3.有關X射線衍射儀技術（XRD）的說明

（1）固體樣品的表面>10×10mm，厚度大于5μm。表面必須是平坦的，并且可以與幾塊一起粘貼。

（2）對于片狀和圓形樣品，會出現嚴重的優選取向，衍射強度異常，需要提供測試方向。

（3）為了測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變）和測量殘余奧氏體，需要制備金相樣品并進行常規拋光或電解拋光以消除表面應變層。

（4）粉末樣品需要研磨至320目粒度，直徑約40微米，重量大于5g。

 

4.應用實例

樣品信息：將要發送的樣品是白色粉末形式的珍珠粉。該測試中使用的設備是日本RigakuD/max2500的X射線衍射儀。

測試參數：管壓力40KV，管流量200μA，Cu靶，衍射寬度DS=SS=1°，RS=0.3mm，掃描速度2.000（d？min-1），掃描范圍10°?80°。

 

 

測試結果：樣品的主要成分是碳酸鈣。